光焱科技LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統介紹

什么是 PL?

PL (Photoluminescence, 光致發(fā)光)：當材料吸收光子后，電子躍遷至激發(fā)態(tài)，再回到低能態(tài)，將能量以光的形式發(fā)出。

什么是 PLQY?

PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率) 計算方式為發(fā)出的光子數除以吸收的光子數。PLQY 是評價(jià)發(fā)光材料的重要指標，除了可以用來(lái)對材料進(jìn)行初級分類(lèi)的基本參數，且對于發(fā)光系統與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。

LQ-100X-PL 如何測試 PLQY?

量測背景訊號

量測樣品

計算樣品的光致發(fā)光量子產(chǎn)率

PL 與 PLQY 是研究材料表征的重要工具，目前材料測試面臨挑戰有以下三點(diǎn)：

(1) 無(wú)法在手套箱內測試。

(2) 無(wú)法進(jìn)行原位時(shí)間光譜解析。

(3) 紅外波段擴展不易。

LQ-100X-PL 針對上述的3大痛點(diǎn)，做出了應對。

特色

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統 擁有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢：

*以緊湊的設計，尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H)，搭配 4 吋外徑 PTFE 材質(zhì)的積分球，并且整合 NIST 追溯的校準，讓手套箱整合 PL 與 PLQY 成為可能。

*利用*進(jìn)的儀表控制程序，可以進(jìn)行原位時(shí)間 PL 光譜解析，并且可產(chǎn)生 2D 與 3D 圖表，說(shuō)明用戶(hù)可以更快地表征材料在原位時(shí)間的變化。

*系統光學(xué)設計可容易的做紅外擴展，波長(cháng)由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可兼容測試。

規格

標準配置：

*全向式收光系統 (100 mm 積分球)

*增強型多信道光譜儀測試系統

*光致發(fā)光量測模塊 (365 nm LED 激發(fā)光源)

*量測軟件

*工控機與屏幕

選配規格：

*EL光譜整合測試套件 (源表/PMT模塊/背探式樣品盒/多通道手動(dòng)切換盒/EL量測軟件升級)

*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件

*激發(fā)光源

*LED光源 (波長(cháng)可選：365 nm / 405 nm / 455 nm / 470 nm / 505 nm / 530 nm / 590 nm / 660 nm / 810 nm / 850 nm / 940 nm)

*Laser光源 (波長(cháng)可選：380 nm / 405 nm / 520 nm / 635 nm / 785 nm / 808 nm / 832 nm / 880 nm / 940 nm)

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應用范圍

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統 可用于：

*熒光粉 (Phosphor)

*發(fā)光二極管熒光材料 (LED fluorescent material)

*有機發(fā)光二極管熒光材料 (OLED fluorescent material)

*鈣鈦礦 (Perovskite)

*雷射染料 (Laser dies)

*鈣鈦礦量子點(diǎn)粉末與單晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)

*PbS 量子點(diǎn) (PbS quantum dot)

實(shí)證

*PL 光譜顯示

LQ-100X-PL 系統可以針對多種材料進(jìn)行 PL 與 PLQY 測試。步驟如下：

1.測量背景訊號，如圖中藍色曲線(xiàn)，并可計算入射激發(fā)光子總數。

2.測量樣品光譜，如圖中綠色曲線(xiàn)。計算得到發(fā)射光子總數。

3.計算 1. 2. 步驟中，樣品吸收光子率與吸收光子總數。

4.由 1. 3. 相除可得到 PLQY。

*發(fā)射光譜分析

LQ-100X-PL 軟件可以針對 PL 發(fā)射光譜進(jìn)行多種分析，以定量的表征材料的特性。包含：

1.發(fā)光 CIE 色坐標

2.CIE-xyz

3.CIE-XYZ

4.CIE-uv

5.色溫

6.色彩純度

*原位時(shí)間解析 PL 光譜變化

LQ-100X-PL 除了 PLQY 測量外，還可進(jìn)行 PL 光譜隨時(shí)間變化連續測試，并繪制成 2D 或 3D 顯示圖-稱(chēng)為原位時(shí)間解析 PL 光譜圖。如圖所示，鈣鈦礦的 PL 光譜隨著(zhù)時(shí)間增加的變化，可以波長(cháng)半寬 (FWHM) 隨之增加，并且產(chǎn)生中心波長(cháng) (Peak Lambda) 紅移的現象。分析原位時(shí)間解析 PL 光譜圖，對于新型材料如鈣鈦礦的穩定性或亞穩態(tài)特性，具有直接的的證據說(shuō)服力。是材料表征的理想工具。