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簡(jiǎn)要描述:光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀是商用CMOS圖像傳感器測試儀,可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數表征。被測設備可以是幾種類(lèi)型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合EMVA 1288標準。因此,可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢測、加工參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準直光束(<1°)可以克服傳統光學(xué)系統(如積分球系統)無(wú)法解決的新制造工藝的檢測困難。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | Enlitech | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
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全光譜的波長(cháng)范圍 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 動(dòng)態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB |
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢(xún)光焱科技專(zhuān)家 |
*無(wú)損光學(xué)檢測。
*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型號)
*高均勻光束點(diǎn):≥ 99%。
*光的不穩定性≤1%。
*高動(dòng)態(tài)范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。
*可以測試CMOS圖像傳感器參數。量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線(xiàn)性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應不均勻性)、CRA。
*全光譜波長(cháng)范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
*波長(cháng)可擴展至1700納米以上。
*DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有/無(wú)微透鏡。
*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。
*定制的測試夾具和平臺(手動(dòng)或自動(dòng),最多6軸)。
*功能完整的分析軟件ARGUS®。
*應用:指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設計,晶圓級光學(xué)檢測,CIS DSP芯片算法開(kāi)發(fā),Si TFT傳感器面板,飛行時(shí)間相機傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線(xiàn)性度,SNR等),d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,多光譜傳感器,環(huán)境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能很好,因此相關(guān)的規格和配件也很齊全。更多細節可再了解。
以下是主要的能力規格:
– 全光譜的波長(cháng)范圍:300-1100nm或350-1000nm(PTC)
– 波長(cháng)范圍可以擴展到1700 nm或更高
– 單一波長(cháng)源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定義
– 動(dòng)態(tài)范圍:80dB、100dB或140dB
– 測試夾具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平臺:非、手動(dòng)3軸,或6軸(手動(dòng)+自動(dòng))平臺(可定制)
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:
*指紋識別(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)
*CIS的微透鏡設計,晶圓級光學(xué)檢查
*CIS DSP 芯片的算法開(kāi)發(fā)
*Si TFT 傳感器面板
*飛行時(shí)間相機傳感器
*近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線(xiàn)性度、SNR等。)
*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
*多光譜傳感器
*環(huán)境光傳感器 (ALS)
*指紋顯示(FoD)傳感器
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